シングルイベント効果(Single Event Effect)の一つで,1個の陽子や重イオンなどの荷電粒子が半導体メモリ素子などに入射した際によって引き起こされる電離作用によって,論理反転を生じる現象のことです.SEUはソフトエラーとも呼ばれ,半導体を恒久的に破壊するものではありません.