ラッチアップ(Latch-up)とは,CMOSデバイスにおいて何らかの原因により,PチャンネルとNチャンネルの出力が同時にON状態,もしくはそれと同等の状態となってしまうことです.これにより電源とGNDが短絡状態となり,大電流が流れ,デバイスが過電流によって破壊される可能性があります.SELは,シングルイベント効果(Single Event Effect)の一つで,1個の陽子や重イオンなどの荷電粒子がこのCMOSデバイスに入射した際にラッチアップを生じる現象です.