半導体の微細加工技術の向上により,一つのLSI 上にCPU,メモリ,各種コントローラなどを搭載できるようになってきました.このようにLSI の回路規模が増大することにより,そのLSI の出荷テストの時間が増加してしまう問題があります.そこで,LSI のテストを容易・迅速に行うDFTと呼ばれるテスト容易化設計の手法が開発されています.例えば,DFT の一つの手法としてBIST(Built-in Self-test)があります.この手法はLSI 上にBIST 回路を組み込み,被測定対象の回路へ与えるテスト・パターンの生成や入力,期待値との比較を行うことで,LSI のテストを容易化する技術です.