テスト時にデバイスの回路内部のレジスタをシフト・レジスタになるように接続し,この回路を利用してボードの接続テストなどを行う手法です.テスト・データはこのシフト・レジスタへシリアルに入力します.回路の振る舞いも,シフト・レジスタからシリアルにデータを取り出してチェックします.JTAG は,ボード・テストのためにIEEE で標準化されたバウンダリ・スキャン・テストの規格(IEEE 1149.1)です.