BIST

Built-in Self-test

LSI 内部にテスト・ベクタ発生回路と期待値比較回路を組み込んでテストを行うテスト容易化技術です．テスト・ベクタ発生回路と期待値比較回路は，BIST ツールによって自動生成します．

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ワイヤ・ボンディング: 半導体チップの電極部とリードフレーム，基板上の導体などを細いワイヤを用いて接続する手法をいいます．電線の両端は，ハンダ付けではなく圧着方式をとります．圧着方式とは，互いに押し付け，接合を行う方法です．...; 全文
マルチプレクサ: マルチプレクサは，制御信号により複数の入力信号の中から一つを選択して出力する回路です．セレクタとも呼ばれます．例えばの図 1 は8 ビットの入力信号A0 〜A3 を2 ビットの制御信号C によって選択...; 全文